NTRC基礎講習会に参加 2019.7.16

120号館で行われたNTRC基礎講習会「SEM・FIB-SEMの基礎及び実技」に参加しました。
本講習では走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)や、収束イオンビーム(Focused Ion Beam)-SEMについて学び、実際にSEMを操作することができました。

SEMを操作する北研究室のメンバー